当前位置:首页国外标准

IEC 61967-6-2002 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导放射测量.磁探测器法

IEC 61967-6-2002 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导放射测量.磁探测器法

IEC 61967-6-2002 标准详情

  • 标准号:IEC 61967-6-2002
  • 中文标题:集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导放射测量.磁探测器法
  • 英文标题:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions; Magnetic probe method
  • 标准类别:国际电工委员会标准
  • 发布日期:2002-06

内容简介

SPECIFIES A METHOD FOR EVALUATING RF CURRENTS ON THE PINS OF AN INTEGRATED CIRCUIT (IC) BY MEANS OF NON-CONTACT CURRENT MEASUREMENT USING A MINIATURE MAGNETIC PROBE. THIS METHOD IS CAPABLE OF MEASURING THE RF CURRENTS GENERATED BY THE IC OVER A FREQU

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习,研究使用。如有侵权,请及时联系我们!

  • 标准质量:
  • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
    ② 仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。
    ③ 代购正版,联系:联系邮箱