DIN EN 60749-3-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验
DIN EN 60749-3-2003 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-3-2003
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection (IEC 60749-3:2002); German version EN 60749-3:2002
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2003-04
内容简介
The pupose of this part of DIN EN 60749 is to verify that the materials, design, construction, markings and wrokmanship of a semiconductor device are in accordance with applicable procurement document. External visual inspection is a non-destructive
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