IEC 60749-17-2003 标准详情
- 标准号：IEC 60749-17-2003
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐照
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2003-02
IEC 60749-17-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐照
内容简介
USED TO DETERMINE THE SUSCEPTIBILITY OF SEMICONDUCTOR DEVICES TO DEGRADATION IN THE NEUTRON ENVIRONMENT. APPLICABLE TO INTEGRATED CIRCUITS AND DISCRETE SEMICONDUCTOR DEVICES.
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