IEC 60749-16-2003 标准详情
- 标准号：IEC 60749-16-2003
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子冲击噪声探测(PIND)
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2003-01
IEC 60749-16-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子冲击噪声探测(PIND)
内容简介
DEFINES A TEST AIMING AT DETECTING THE PRESENCE OF LOOSE PARTICLES INSIDE A CAVITY DEVICE SUCH AS, FOR EXAMPLE, CHIPS OF CERAMIC, PIECES OF BONDING WIRE OR SOLDER BALLS (PRILLS).
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