JEDEC EIA-398-1972 标准详情
- 标准号：JEDEC EIA-398-1972
- 中文标题：晶体管电容微量值测量
- 英文标题：measurement of small values of transistor capacitance
- 标准类别：电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期：1972-01-01
JEDEC EIA-398-1972 晶体管电容微量值测量
内容简介
Transistor capacitances are usually measured on two-terminal capacitance or impedance bridges. Whenthe capacitances are in the low picofarad ranges, this two terminal measurement is not very accurate orreproducible. The stray capacitances to ground a
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