JEDEC EIA-372-1970 标准详情
- 标准号：JEDEC EIA-372-1970
- 中文标题：小信号VHF-UHF晶体管准入参数的测量
- 英文标题：measurement of small-signal vhf-uhf transistor admittance parameters
- 标准类别：电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期：1970-01-01
JEDEC EIA-372-1970 小信号VHF-UHF晶体管准入参数的测量
内容简介
The measuring system must provide a means for applying bias to the transistor under test. The biassystem must be such as not to influence the accuracy of the measurements.
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