DLA MIL-PRF-19500/615 E-2012 半导体器件，场效应辐射硬化（总剂量和单事件效应）晶体管， p沟道，硅，类型2n7382和2n7383 ， JANTXV M，D ，r和f和JANS米，D，R和f
DLA MIL-PRF-19500/615 E-2012 标准详情
- 标准号：DLA MIL-PRF-19500/615 E-2012
- 中文标题：半导体器件，场效应辐射硬化（总剂量和单事件效应）晶体管， p沟道，硅，类型2n7382和2n7383 ， JANTXV M，D ，r和f和JANS米，D，R和f
- 英文标题：semiconductor device, field effect radiation hardened (total dose and single event effects) transistors, p-channel, silicon, types 2n7382 and 2n7383, jantxv m, d, r, and f and jans m, d, r, and f
- 标准类别：美国国防部后勤局标准DLA
- 发布日期：2012-03-28
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