DLA MIL-PRF-19500/601 J-2012 半导体器件，场效应辐射硬化（总剂量和单事件效应）晶体管， n沟道，硅，类型2n7261和2n7262 ， u和U5后缀， jantxvr中，f ， g和h与jansr中，f ， g和h
DLA MIL-PRF-19500/601 J-2012 标准详情
- 标准号：DLA MIL-PRF-19500/601 J-2012
- 中文标题：半导体器件，场效应辐射硬化（总剂量和单事件效应）晶体管， n沟道，硅，类型2n7261和2n7262 ， u和U5后缀， jantxvr中，f ， g和h与jansr中，f ， g和h
- 英文标题：semiconductor device, field effect radiation hardened (total dose and single event effects) transistors, n-channel, silicon, types 2n7261 and 2n7262, u and u5 suffixes, jantxvr, f, g, and h and jansr, f, g, and h
- 标准类别：美国国防部后勤局标准DLA
- 发布日期：2012-03-14
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
