IEC 60749-8-2002 标准详情
- 标准号：IEC 60749-8-2002
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第8部分:密封
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods - part 8: sealing
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2002-08-30
IEC 60749-8-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第8部分:密封
内容简介
APPLICABLE TO SEMICONDUCTOR DEVICES (DISCRETE DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS), IT DETERMINES THE LEAK RATE OF SEMICONDUCTOR DEVICES.
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