IEC 62047-8-2011 标准详情
- 标准号：IEC 62047-8-2011
- 中文标题：半导体装置.微电机装置.第8部分:薄膜的拉力特性测量的带状抗弯试验方法
- 英文标题：semiconductor devices - micro-electromechanical devices - part 8: strip bending test method for tensile property measurement of thin films
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2011-03-14
