IEC/PAS 62203 Ed. 1.0 标准详情
- 标准号：IEC/PAS 62203 Ed. 1.0
- 中文标题：
- 英文标题：Guide for the standard probe pad sizes and layouts for wafer-level electrical testing
- 标准类别：国际电工委员会IEC
- 发布日期：
IEC/PAS 62203 Ed. 1.0
内容简介
Applies to double- and single-column arrays of metal probe pads, on a semiconductor wafer or chip, that are electrically connected to one or more test structures. It is intended to facilitate and expedite wafer-level electrical testing by laboratorie
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