ASTM F1049-1995 标准详情
- 标准号：ASTM F1049-1995
- 中文标题：浅腐蚀坑检测在硅晶片上的标准做法
- 英文标题：standard practice for shallow etch pit detection on silicon wafers
- 标准类别：美国材料与试验协会ASTM
- 发布日期：1985
ASTM F1049-1995 浅腐蚀坑检测在硅晶片上的标准做法
内容简介
1.1 This practice describes procedures for the installation of granular loose-fill insulation in ceilings, attics, floor, and wall cavities of new or existing housing and other framed buildings. 1.2 This practice applies only to the installation of
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