EIA JESD57-1996 标准详情
- 标准号：EIA JESD57-1996
- 中文标题：由重离子辐照试验程序的单事件效应测量半导体器件中的
- 英文标题：test procedures for the measurement of single-event effects in semiconductor devices from heavy ion irradiation
- 标准类别：美国电子工业协会标准
- 发布日期：1996-01-01
EIA JESD57-1996 由重离子辐照试验程序的单事件效应测量半导体器件中的
内容简介
Describes requirements and procedures for ground simulation of single event effects (SEE) and implementation of the method in testing integrated circuits.
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