EN 60749-5-2003 标准详情
- 标准号：EN 60749-5-2003
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差耐久性试验.
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods -- part 5: steady-state temperature humidity bias life test
- 标准类别：欧盟标准EN
- 发布日期：2003-03-13
EN 60749-5-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差耐久性试验.
内容简介
Covers a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.
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