EIA JEP138-1999 标准详情
- 标准号：EIA JEP138-1999
- 中文标题：对芯片温度的红外热成像确定用户指南
- 英文标题：user guidelines for ir thermal imaging determination of die temperature
- 标准类别：美国电子工业协会标准
- 发布日期：1999-08-01
EIA JEP138-1999 对芯片温度的红外热成像确定用户指南
内容简介
Provides background and an example for the use of an infrared (IR) microscope to determine die temperature of electronic devices for calculations such as thermal resistance.
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