EIA JEP128-1996 标准详情
- 标准号：EIA JEP128-1996
- 中文标题：指导标准探针焊盘尺寸和布局晶圆级电气测试
- 英文标题：guide for standard probe pad sizes and layouts for wafer-level electrical testing
- 标准类别：美国电子工业协会标准
- 发布日期：1996-01-01
EIA JEP128-1996 指导标准探针焊盘尺寸和布局晶圆级电气测试
内容简介
Facilitates any electrical tests that require wafer-probe card to make electrical contact to test structures. Widespread use of this guide will afford the efficient and cost-effective use of Wafer-probe test stations because of the need for fewer pro
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