IEC 60749-7-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:其他残余气体的分析和内部水分含量的测量
IEC 60749-7-2002 标准详情
- 标准号：IEC 60749-7-2002
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:其他残余气体的分析和内部水分含量的测量
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2002-04
内容简介
AIMS AT TESTING AND MEASURING THE WATER VAPOUR AND OTHER GAS CONTENT OF THE ATMOSPHERE INSIDE A METAL OR CERAMIC HERMETICALLY SEALED DEVICE. APPLICABLE TO SEMICONDUCTOR DEVICES SEALED IN SUCH A MANNER BUT GENERALLY ONLY USED FOR HIGH RELIABILITY APPL
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