IEC 60749-32-2010 半导体器件.机械和气候试验方法.第32部分:塑料密封器件的易燃性(外部感应)
IEC 60749-32-2010 标准详情
- 标准号：IEC 60749-32-2010
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第32部分:塑料密封器件的易燃性(外部感应)
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods - part 32: flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2010-11-29
内容简介
IEC 60749-32:2002+A1:2010 IS APPLICABLE TO SEMICONDUCTOR DEVICES (DISCRETE DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS). THE OBJECT OF THIS TEST IS TO DETERMINE WHETHER THE DEVICE IGNITES DUE TO EXTERNAL HEATING. THE TEST USES A NEEDLE FLAME, SIMULATING THE EFFE
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