JEDEC JESD57-1996 标准详情
- 标准号：JEDEC JESD57-1996
- 中文标题：重离子辐射中半导体设备的单粒子效应测量的测试规程
- 英文标题：test procedures for the measurement of single-event effects in semiconductor devices from heavy ion irradiation
- 标准类别：电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期：1996-01-01
JEDEC JESD57-1996 重离子辐射中半导体设备的单粒子效应测量的测试规程
内容简介
This test method defines the requirements and procedures for Earth-based single-eventeffects (SEE) testing of integrated circuits.
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