EN 60749-29-2003 标准详情
- 标准号：EN 60749-29-2003
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第29部分:闭锁试验.
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods -- part 29: latch-up test
- 标准类别：欧盟标准EN
- 发布日期：2003-12-15
EN 60749-29-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第29部分:闭锁试验.
内容简介
Specifies the I-test and the overvoltage latch-up testing of integrated circuits. It establishes a method for determining integrated circuit latch-up characteristics and to define latch-up failure criteria.
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