IEC 60444-2-1980 用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第2部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法
IEC 60444-2-1980 标准详情
- 标准号：IEC 60444-2-1980
- 中文标题：用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第2部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法
- 英文标题：Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a -network; part 2 : phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：1980
内容简介
Describes a method suitable for measurement in the frequency range 1 MHz to 125 MHz with a total measurement error of the order of 5 %. This method is based on the phase measurement at the resonance frequency and in its vicinity. The value of the mot
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