JEDEC JESD51-1-1995 标准详情
- 标准号：JEDEC JESD51-1-1995
- 中文标题：集成电路热测方法－电测方法(单半导体器件)
- 英文标题：integrated circuit thermal measurement method - electrical test method (single semiconductor device)
- 标准类别：电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期：1995
JEDEC JESD51-1-1995 集成电路热测方法－电测方法(单半导体器件)
内容简介
The measurement method described herein is equally applicable to both thermal test die andactive intemted circuit devices. Thermal test die, consisting of a heat source and temperaturesensor integrated into a semiconductor chip, are commonly used for
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