EN 60749-16-2003 半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分：粒子碰撞噪声检测
EN 60749-16-2003 标准详情
- 标准号：EN 60749-16-2003
- 中文标题：半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分：粒子碰撞噪声检测
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND) (IEC 60749-16:2003) / Note: Endorsement notice
- 标准类别：欧盟标准EN
- 发布日期：2003/04/01
内容简介
Detects the presence of loose particles inside a cavity device such as, for example, chips of ceramic, pieces of bonding wire or solder balls (prills).
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