IEC 60749-12-2002 标准详情
- 标准号：IEC 60749-12-2002
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第12部分: 振动,可变频率
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2002-04
IEC 60749-12-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第12部分: 振动,可变频率
内容简介
DESCRIBES A TEST TO DETERMINE THE EFFECT OF VARIABLE FREQUENCY VIBRATION, WITHIN THE SPECIFIED FREQUENCY RANGE, ON INTERNAL STRUCTURAL ELEMENTS. THIS IS A DESTRUCTIVE TEST. IT IS NORMALLY APPLICABLE TO CAVITY-TYPE PACKAGES.
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