ASTM F980-1986 标准详情
- 标准号：ASTM F980-1986
- 中文标题：对于中子诱发的位移损伤快速退火的半导体器件的测量标准指南e1-1987无需更换
- 英文标题：standard guide for the measurement of rapid annealing of neutron- induced displacement damage in semiconductor devices e1-1987 no replacement
- 标准类别：美国材料与试验协会ASTM
- 发布日期：
