EIA JESD51-1-1995 标准详情
- 标准号：EIA JESD51-1-1995
- 中文标题：集成电路热测量方法 - 电气试验方法（单个半导体器件）
- 英文标题：integrated circuit thermal measurement method - electrical test method (single semiconductor device)
- 标准类别：美国电子工业协会标准
- 发布日期：1995-01-01
EIA JESD51-1-1995 集成电路热测量方法 - 电气试验方法（单个半导体器件）
内容简介
Defines a standard Electrical Test Method (ETM) that can be used to determine the thermal characteristics of single integrated circuit devices housed in some form of electrical package.
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
③ 代购正版，联系：