IEC 60749-33-2005 标准详情
- 标准号：IEC 60749-33-2005
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2005-11
IEC 60749-33-2005 半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器
内容简介
The unbiased autoclave test is performed to evaluate the moisture resistance integrity of non-hermetically packaged solid-state devices using moisture condensing or moisture saturated steam environments. It is a highly accelerated test which employs
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