IEC 60749-25-2003 标准详情
- 标准号：IEC 60749-25-2003
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第25部分:温度循环
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2003-07
IEC 60749-25-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第25部分:温度循环
内容简介
PROVIDES A TEST PROCEDURE FOR DETERMINING THE ABILITY OF SEMICONDUCTOR DEVICES AND COMPONENTS AND/OR BOARD ASSEMBLIES TO WITHSTAND MECHANICAL STRESSES INDUCED BY ALTERNATING HIGH AND LOW TEMPERATURE EXTREMES. PERMANENT CHANGES IN ELECTRICAL AND/OR PH
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