IEC 60749-27-2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)
IEC 60749-27-2006 标准详情
- 标准号：IEC 60749-27-2006
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2006-07
内容简介
This part of IEC 60749 establishes a standard procedure for testing and classifyingsemiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposureto a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD). It may be us
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