IEC 60749-32 CORR 1-2003 标准详情
- 标准号：IEC 60749-32 CORR 1-2003
- 中文标题：
- 英文标题：semiconductor devices. mechanical and climatic test methods. part 32:flammability of plastic-encapsulated devices externally induced corrigendum 1 dispositifs. semiconducteurs. méthodes d essais mécaniques et climatiques. partie 32:inflammabilit. d
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：
