EN 60749-18-2003 标准详情
- 标准号：EN 60749-18-2003
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第18部分:电离辐射(总剂量)
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods -- part 18: ionizing radiation (total dose)
- 标准类别：欧盟标准EN
- 发布日期：2003-02-07
EN 60749-18-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第18部分:电离辐射(总剂量)
内容简介
Covers a test procedure for defining requirements for testing packaged semiconductor integrated circuits and discrete semiconductor devices for ionizing radiation (total dose) effects from a cobalt-60 ([60]Co) gamma ray source.
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