EN 60749-11-2002 半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：温度的快速变化 双液槽法
EN 60749-11-2002 标准详情
- 标准号：EN 60749-11-2002
- 中文标题：半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：温度的快速变化 双液槽法
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method (IEC 60749-11:2002) / Note: Endorsement notice
- 标准类别：欧盟标准EN
- 发布日期：2002/08/01
内容简介
Describes the rapid change of temperature test method and the two-fluid-bath method. It is applicable to all semiconductor devices.
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