EN 60749-2-2002 标准详情
- 标准号：EN 60749-2-2002
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第2部分:低气压
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods -- part 2: low air pressure
- 标准类别：欧盟标准EN
- 发布日期：2002-08-13
EN 60749-2-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第2部分:低气压
内容简介
This document is not available once adopted. Please see Equivalent Standard below for national adloptions.
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
③ 代购正版，联系：