IEC 60749-24-2004 标准详情
- 标准号：IEC 60749-24-2004
- 中文标题：半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分：强化抗湿-无偏高速应力试验hast
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods - part 24: accelerated moisture resistance - unbiased hast
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2004-03-09
IEC 60749-24-2004 半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分：强化抗湿-无偏高速应力试验hast
内容简介
THE UNBIASED HIGHLY ACCELERATED STRESS TEST IS PERFORMED FOR THE PURPOSE OF EVALUATING THE RELIABILITY OF NON-HERMETICALLY PACKAGED SOLID-STATE DEVICES IN HUMID ENVIRONMENTS. IT EMPLOYS TEMPERATURE AND HUMIDITY UNDER NON-CONDENSING CONDITIONS TO ACCE
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