DIN EN 60749-5-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差寿命试验
DIN EN 60749-5-2003 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-5-2003
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差寿命试验
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2003); German version EN 60749-5:2003
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2003-09
内容简介
This part of DIN EN 60749 provides a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
