DIN EN 60749-34-2004 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-34-2004
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第34部分:电力循环
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling (IEC 60749-34:2004); German version EN 60749-34:2004
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2004-10
DIN EN 60749-34-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第34部分:电力循环
内容简介
This test method is used to determine the resistance of a semiconductor device to thermal and mechanical stresses due to cycling the power dissipation of the internal semiconductor die and internal connectors.
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