DIN EN 60749-6-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温储存
DIN EN 60749-6-2003 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-6-2003
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温储存
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002); German version EN 60749-6:2003
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2003-04
内容简介
The purpose of this part of DIN EN 60749 is to test and determine the effect on all semiconductor electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is considered non-destructive but should preferably b
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