IEC 60749-30-2011 半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:可靠性试验前不气密的表面安装器件的预调
IEC 60749-30-2011 标准详情
- 标准号：IEC 60749-30-2011
- 中文标题：半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:可靠性试验前不气密的表面安装器件的预调
- 英文标题：semiconductor devices – mechanical and climatic test methods –part 30: preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2011-08-01
内容简介
THIS PART OF IEC 60749 ESTABLISHES A STANDARD PROCEDURE FOR DETERMINING THE PRECONDITIONING OF NON-HERMETIC SURFACE MOUNT DEVICES (SMDS) PRIOR TO RELIABILITY TESTING.THE TEST METHOD DEFINES THE PRECONDITIONING FLOW FOR NON-HERMETIC SOLID-STATE SMDS R
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