IEC 60749-38-2008 半导体器件.机械和气候试验方法.第38部分:带存储器的半导体器件用软错误试验法
IEC 60749-38-2008 标准详情
- 标准号：IEC 60749-38-2008
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第38部分:带存储器的半导体器件用软错误试验法
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2008-02
内容简介
This part of IEC 60749 establishes a procedure for measuring the soft error susceptibility ofsemiconductor devices with memory when subjected to energetic particles such as alpharadiation. Two tests are described; an accelerated test using an alpha r
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