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DIN EN 60749-36-2002 (草案)的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第36部分:加速稳定状态( IEC 1585分之47 / CDV : 2001) ,德国版PREN 60749-36 :2001

DIN EN 60749-36-2002 (草案)的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第36部分:加速稳定状态( IEC 1585分之47 / CDV : 2001) ,德国版PREN 60749-36 :2001

DIN EN 60749-36-2002 标准详情

  • 标准号:DIN EN 60749-36-2002
  • 中文标题:(草案)的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第36部分:加速稳定状态( IEC 1585分之47 / CDV : 2001) ,德国版PREN 60749-36 :2001
  • 英文标题:(draft) semiconductor devices - mechanical and climatic test methods - part 36: acceleration steady state (iec 47/1585/cdv:2001); german version pren 60749-36:2001
  • 标准类别:德国标准
  • 发布日期:2002-05-01

内容简介

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