JEDEC JEP179-2006 标准详情
- 标准号：JEDEC JEP179-2006
- 中文标题：组装的固态表面贴装元件的测试驱使鉴定和故障机理分析
- 英文标题：stress-test-driven qualification of and failure mechanisms associated with assembled solid state surface- mount components
- 标准类别：电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期：2006-06-01
JEDEC JEP179-2006 组装的固态表面贴装元件的测试驱使鉴定和故障机理分析
内容简介
The JEDEC standard DDR2 SDRAM must satisfy the requirement of 85C tCASE(max) operation at alltimes (Byte 47, bits 4:7 = 0000). There is an optional, higher tCASE operation allowed, up to 95C (Byte47, bits 4:7 = 1010). If the optional higher tCASE lim
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