IEC 60749-3-2002 标准详情
- 标准号：IEC 60749-3-2002
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2002-04
IEC 60749-3-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验
内容简介
AIMS AT VERIFYING THAT THE MATERIALS, DESIGN, CONSTRUCTION, MARKINGS, AND WORKMANSHIP OF A SEMICONDUCTOR DEVICE ARE IN ACCORDANCE WITH THE APPLICABLE PROCUREMENT DOCUMENT. EXTERNAL VISUAL INSPECTION IS A NON-DESTRUCTIVE TEST AND APPLICABLE FOR ALL PA
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