IEC 60749-27-2003 半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分: 机器模型（mm）的静电释放（esd）灵敏度测试
IEC 60749-27-2003 标准详情
- 标准号：IEC 60749-27-2003
- 中文标题：半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分: 机器模型（mm）的静电释放（esd）灵敏度测试
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods - part 27: electrostatic discharge (esd) sensitivity testing - machine model (mm)
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2003-10-21
内容简介
ESTABLISHES A STANDARD PROCEDURE FOR TESTING AND CLASSIFYING SEMICONDUCTOR DEVICES ACCORDING TO THEIR SUSCEPTIBILITY TO DAMAGE OR DEGRADATION BY EXPOSURE TO A DEFINED MACHINE MODEL ELECTROSTATIC DISCHARGE. THE OBJECTIVE IS TO PROVIDE RELIABLE, REPEAT
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