IEC 60749-1-2002 标准详情
- 标准号：IEC 60749-1-2002
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第1部分:总则
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2002-08
IEC 60749-1-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第1部分:总则
内容简介
APPLICABLE TO SEMICONDUCTOR DEVICES (DISCRETE DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS) AND ESTABLISHES PROVISIONS COMMON TO ALL THE OTHER PARTS OF THE SERIES.
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