IEC 60749-13-2002 标准详情
- 标准号：IEC 60749-13-2002
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第13部分: 盐性环境
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2002-04
IEC 60749-13-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第13部分: 盐性环境
内容简介
DESCRIBES A SALT ATMOSPHERE TEST THAT DETERMINES THE RESISTANCE OF SEMICONDUCTOR DEVICES TO CORROSION. IT IS AN ACCELERATED TEST THAT SIMULATES THE EFFECTS OF SEVERE SEA-COAST ATMOSPHERE ON ALL EXPOSED SURFACES. IT IS ONLY APPLICABLE TO THOSE DEVICES
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
③ 代购正版，联系：