EIA JESD51-8-1999 标准详情
- 标准号：EIA JESD51-8-1999
- 中文标题：集成电路热测试方法，环境条件 - 结对板
- 英文标题：integrated circuit thermal test method environmental conditions - junction-to-board
- 标准类别：美国电子工业协会标准
- 发布日期：1999-10-01
EIA JESD51-8-1999 集成电路热测试方法，环境条件 - 结对板
内容简介
Describes environmental conditions which are specifically designed for testing of integrated circuit devices that are mounted on standard test boards with two internal copper planes.
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