DIN EN 60749-29-2004 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-29-2004
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第29部分:封闭试验
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2003); German version EN 60749-29:2003 + Corrigendum:2004
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2004-07
