DIN EN 60749-30-2005 半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验之前不气密的表面安装器件的预调试
DIN EN 60749-30-2005 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-30-2005
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验之前不气密的表面安装器件的预调试
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005); German version EN 60749-30:2005
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2005-06
内容简介
This part of DIN EN 60749 establishes a standard procedure for determining the preconditioning of non-hermetic surface mount-devices (SMDs) prior to reliability testing.
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