EN 60749-35-2006 标准详情
- 标准号：EN 60749-35-2006
- 中文标题：半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑料包封电子元件用声学显微镜法
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods -- part 35: acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
- 标准类别：欧盟标准EN
- 发布日期：2006-09-20
