IEC/PAS 62165 Ed. 1.0 标准详情
- 标准号：IEC/PAS 62165 Ed. 1.0
- 中文标题：
- 英文标题：Guidelines for the measurement of thermal resistance of GaAs FETs
- 标准类别：国际电工委员会IEC
- 发布日期：
IEC/PAS 62165 Ed. 1.0
内容简介
The main purposes of thermal resistance measurements aredie-attach screening, whole-FET screening (includingpackage), steady-state thermal resistance characterization.Several measurement techniques are in common use today,they are- electrical or forw
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
③ 代购正版，联系：